接线端子老化的原因以及检测的方法-凯发k8一触即发

一般老说，接线端子老化的原因主要有以下几个：环境和温度、化学腐蚀、长时间过负荷运行等，而测试端子是否老化的标准和方法如下：

接线端子老化的原因

通常来说，接线端子老化的原因主要有以下几个：

1）环境和温度

接线端子所处的外界环境和热源也会变成接线端子温度过高、绝缘击穿，甚至爆炸起火。

2）化学腐蚀

接线端子外壳绝缘材料因长时间受到化学腐蚀或电解腐蚀，导致保护层失效，绝缘降低，也会导致接线端子老化加剧。

3）长时间过负荷运行

由于电流的热效应，负载电流通过接线端子时一定导致发热，从而使接线端子温度升高，而过高的温度会加速绝缘的老化，尤其在夏季，接线端子的老化会加剧。

接线端子老化测试标准

gb/t 14048.7、iec 60947-7-1 《低压开关设备和控制设备 第 7-1 部分：辅助器件 铜导体的接线端子排》

1. 标准规定了主要用于工业或类似用途的安装在支架上为铜导线提供电气连接以及机械连接的螺纹型或非螺纹型接线端子排的要求。

2. 标准适用于额定电压交流不超过1000v、频率至1000hz或直流不超过1500v电路中，用于连接截面积为0.2mm~300mm（awg24/600kcmil）经过或未经过特殊加工的圆铜导线的接线端子排。

接线端子老化测试方法

1. 将5个接线端子水平装在一个导轨上，采用额定截面积的导线进行连接，连接导线至少长300mm，然后测量每个接线端子的电压降；

2. 老化箱内的温度下限和温度上限分别设置为20℃和75℃；

3. 升温阶段及达到最高温度后10min的持续阶段，都有额定电流流过，这样，测试件将达到所容许的最高工作温度，这里我们要清楚的知道最高最大温度值是120℃。

4. 接下来为冷却过程，在每24个加热冷却循环后的冷却状态下，测量一次电压降，整个测试过程共192个循环。

5. 测试前电压降不能超过3.2mv，测试中及测试后电压降不得超过4.8mv，并且24个循环后的测量值不得超过测试前初始值的1.5倍。